Meten tot op enkele nanometer

In het kader van het Accelerate³ project heeft de Renewable Material and Nanotechnology onderzoeksgroep, geleid door Prof. Wim Thielemans, een Kratos Axis Ultra X-ray Photoelectron Spectrometer aangekocht. 

bron: KU LEUVEN KULAK

De spectrometer laat onderzoekers toe om de chemische compositie en omgeving van oppervlakken in kaart te brengen met een resolutie van 1 micrometer en een diepte van slechts enkele atoomlagen.

Bovendien is het apparaat uitgerust met een 'Argon cluster bron'. Dit laat toe om polymeeroppervlakken vóór analyse te reinigen zonder schade aan te brengen. Het apparaat maakt het ook mogelijk om diepteprofielen van de chemische compositie tot op enkele nanometer te meten en in kaart te brengen.  De spectrometer is  uitgerust met een Ion Scattering Spectroscopy optie waardoor tot op zeker hoogte atoomisotopen van oppervlakte-atomen onderscheiden kunnen worden en het onderscheid tussen organische en metaalatomen verhoogd wordt.

(c) Kratos Analytical

(c) Kratos Analytical

Het nieuwe apparaat zal ter beschikking staan van de Interreg Accelerate³ partners en staat ook open voor het uitvoeren van chemische karakterisatie van oppervlakken voor industriële partners. Geïnteresseerden kunnen hiervoor contact opnemen met prof. Wim Thielemans. De spectrometer zal volgens planning tegen eind januari 2017 operationaal zijn.

Categorie:

Alle berichten